XRF-FP - это полнофункциональное приложение для количественного анализа рентгеновского и гамма- излучения.

Программное обеспечение XRF-FP обрабатывает первоначальный спектр, полученный с помощью детектора излучения, определяя интенсивность пиков элементов (т.е. величину пика для каждого элемента) и концентрацию этих элементов.

Первоначальный и обработанный спектр с помощью XRF-FP

Это полнофункциональное приложение включает большое количество изменяемых параметров, которые пользователь может подстроить под условия своей работы.  

Главное окно программы

• Одновременно можно анализировать до 40 элементов
• Поддерживает измерение сложных по составу композиций, состав и толщину одного слоя, или состав до 4х слоев
• Включает корректировку потерь от рассеивания в воздухе, бериллиевых окон детекторов, "мертвых" слоев детектора, фильтров между образцом и трубкой или между образцом и детектором. Высчитываются исходя из параметров пользователя
• Интенсивность фотопиков может быть смоделирована как Гауссовская функция
• Линейная и нелинейная деконволюция
• Анализ фундаментальных параметров может быть основан на соответствии одному многокомпонентному стандарту, нескольким стандартам или вообще без них
• Анализ фундаментальных параметров основан на уравнении Шермана
• Спектр трубки может быть предложен пользователем, либо спроектирован по встроенным моделям (Ebel, Pella и др.)
• Имеется как экспертный режим, так и облегченный